產(chǎn)品功能介紹
S530 功能
靈活的探測器接口選項(xiàng)，包括測試頭，支持原有吉時利和 Keysight 裝置；行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的 KTE 軟件環(huán)境；觸摸一次探頭即可完成高壓和低壓參數(shù)的測試；通過全新系統(tǒng)參考單元(SRU)進(jìn)行全自動系統(tǒng)級校準(zhǔn)符合zui新質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)；KTE7中的運(yùn)行狀況檢查軟件工具zui大限度地延長系統(tǒng)正常運(yùn)行時間和提高數(shù)據(jù)完整性；內(nèi)置的瞬態(tài)過電壓和/或過電流事件保護(hù)，可zui大程度地減少代價高昂的系統(tǒng)停機(jī)或?qū)斐蓳p壞；符合 ISO-17025 校準(zhǔn)要求并支持 IATF-16949 合規(guī)性；提供 SECS/GEM 與 300 毫米晶圓廠的集成。
S540 功能
在單次探頭觸摸中自動在多達(dá) 48 個引腳上執(zhí)行所有晶片級參數(shù)測試，包括高電壓擊穿、電容和低電壓測量，而無需更改電纜或探頭卡基礎(chǔ)設(shè)施；在zui高達(dá) 3kV 的條件下執(zhí)行晶體管電容測量，如 Ciss、Coss 和 Crss，而無需手動配置測試引腳；在高速、多引腳、全自動測試環(huán)境中實(shí)現(xiàn)低電平測量性能；基于 Linux 的 Keithley 測試環(huán)境(KTE)系統(tǒng)軟件支持輕松進(jìn)行測試開發(fā)和快速執(zhí)行；非常適合于過程集成、過程控制監(jiān)控和生產(chǎn)芯片分類中的全自動或半自動應(yīng)用；通過zui大程度減少測試時間、測試設(shè)置時間和占地面積，降低擁有成本，同時實(shí)現(xiàn)實(shí)驗(yàn)室級測量性能。
S500 功能
全量程源測量單元 (SMU)儀器技術(shù)規(guī)格，包括 subfemtoamp 測量，確保在幾乎任何設(shè)備上都能執(zhí),行廣泛的測量；適用于內(nèi)存檢定、電荷泵、單脈沖 PIV(電荷陷阱分析)和 PIV 掃描(自加熱回避)的脈沖生成和超快 I-V；利用支持 Keithley 系統(tǒng)的可擴(kuò)展 SMU 儀器，提供低或高通道數(shù)系統(tǒng)，包括并行測試；適用于測試功率 MOSFET 和顯示驅(qū)動器等測試器件的高電壓、電流和功率源測量儀器；開關(guān)、探頭卡和布線保證系統(tǒng)完全適用于您的 DUT。
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